Materiaal AFWERKINGEN
De meest gebruikte parameter voor oppervlaktestructuur is de gemiddelde ruwheid (Ra). Ra wordt berekend met een algoritme dat de gemiddelde afstand tussen de pieken en dalen en de afwijking van de middelijn op het gehele oppervlak binnen vijf monster secties meet. Ra berekent het gemiddelde van alle pieken en dalen van het ruwheidsprofiel en neutraliseert vervolgens de uitschoten, zodat de extreme punten geen significante invloed hebben op het eindresultaat. Het is een eenvoudige en effectieve methode voor het bijhouden van de oppervlaktestructuur en het waarborgen van consistentie in de meting van meerdere oppervlakken.
SAMPLING SECTIONS
Rs µm |
Section |
Total Length |
---|---|---|
0.006 < Ra ≤ 0.02 |
0.08 | 0.4 |
0.02 < Ra ≤ 0.1 | 0.25 | 1.25 |
0.1< Ra ≤ 2 |
0.8 | 4 |
ASME BPE STANDARDS
Mechanically Polished
Surface |
Ra-Max |
Ra Max |
---|---|---|
SF0 |
No Ra Req. |
No Ra Req. |
SF1* |
20 |
0.51 |
SF2 |
25 |
0.64 |
SF3 |
30 |
0.76 |
Mechanically Polished & Electropolished
Surface |
Ra-Max |
Ra Max |
---|---|---|
SF4* |
15 |
0.38 |
SF5 |
20 |
0.51 |
SF6 |
25 |
0.54 |
*Most Common
Een andere parameter die wordt gebruikt voor ruwheid is de gemiddelde ruwheidsdiepte (Rz). Rz wordt berekend door de verticale afstand te meten van de hoogste piek tot het laagste dal binnen vijf bemonsteringslengtes, en deze afstanden vervolgens te middelen. Rz berekent alleen het gemiddelde van de vijf hoogste pieken en de vijf diepste dalen, waardoor extremen een veel grotere invloed hebben op de eindwaarde.
De specificatie volgens de ASME-BPE omvat zeven oppervlaktestructuren die kunnen worden gebruikt bij het specificeren van oppervlaktestructuren.
DIN 11865 STANDARDS
Mechanically Polished
Surface |
Ra-Max |
Ra Max |
---|---|---|
H1 |
< 1.6 μm |
< 3.2 μm |
H2 |
< 0.8 μm |
< 3.2 μm |
H3 |
< 0.8 μm |
< 0.8 μm |
H4 |
< 0.4 μm |
< 0.4 μm |
H5 |
< 0.25 μm |
< 0.25 μm |
Mechanically Polished & Electropolished
Surface |
Ra-Max |
Ra Max |
---|---|---|
H3 |
< 0.8 μm | < 0.8 μm |
H4 |
< 0.4 μm | < 0.4 μm |
H5 |
< 0.25 μm |
< 0.25 μm |